Обзор

Элементные инновации

Непрерывное развитие, улучшение качества обслуживания клиентов?

Благодаря встроенной в платформу Zetium технологии SumXcore, включающей методы WDXRF и EDXRF, на первый план выходят научно обоснованные инновации, обеспечивающие максимальную гибкость, производительность и универсальность — на пути к глобальным изменениям в области рентгенофлуоресцентной спектрометрии.

Элементные инновации

Интеллектуальные решения для элементного анализа

Для успешного применения усовершенствованного аналитического оборудования необходимы расширенная версия аналитического программного обеспечения и специальные знания
Усовершенствованные функции нашего известного программного обеспечения SuperQ предоставляют доступ к новым комбинациям технологий и аналитическим возможностям. Интеллектуальное решение Virtual Analyst облегчает работу пользователя во время настройки и эксплуатации системы.
Интеллектуальные решения для элементного анализа

Поддержка при проведении элементного анализа

Доступная и надежная поддержка независимо от местоположения
?
От обучения до проведения лабораторного анализа, от обслуживания до эксплуатации — пользователь получает всестороннюю поддержку во всех спектрах деятельности. Благодаря всемирной сети опытных инженеров в сочетании с крупнейшим в отрасли составом методистов компания Malvern Panalytical всегда готова помочь вам в решении аналитических задач.?
Поддержка при проведении элементного анализа

Технология элементного анализа

60 лет опыта и ценных достижений — идеальная отправная точка
Zetium является следующим примером успешного применения спектрометров WDXRF, включая Axios, MagiX и PW2400. Признанные технологические достижения благодаря дальнейшему развитию и усовершенствованию стали основой платформы Zetium.
Технология элементного анализа

Функции

Расширенные возможности анализа

  • Повышение мощности от 1 до 2,4, 3 или 4 кВт для большей чувствительности
  • Ассортимент материалов анода рентгеновских трубок (Rh, Cr, Mo и Au) для конкретных вариантов применения
  • Дуплексный детектор повышает чувствительность и расширяет динамический диапазон для анализа металлов
  • Сцинтилляционный детектор HiPer увеличивает динамический диапазон для тяжелых элементов (линейный до 3,5 Мимп/с) и идеально подходит для высокоточного анализа Nb и Mo в сталях

Удобный пользовательский интерфейс

  • Простое, интуитивно понятное программное обеспечение с использованием Virtual Analyst
  • Полный набор модулей настройки программы и программных решений
  • Ведущий в отрасли анализ с применением рентгеновской флуоресценции при использовании Omnian - анализ неизвестных элементов или анализ при отсутствии стандартов
  • Многоэлементный анализ поверхностей с картографированием
  • Программируемые маски коллиматора для образцов с размерами от 6 до 37 мм

Максимальная скорость обработки образца

  • Технология SumXcore - время измерения сокращено на 50% с помощью ядра ED
  • Повышение мощности с 1 до 2,4, 3 или 4 кВт для ускорения анализа
  • Каналы Hi-Per для одновременного измерения легких элементов
  • Непрерывная и непосредственная загрузка образца значительно снижает расходы прибора
  • Высокопроизводительная платформа устройства смены образцов (до 209 позиций) для обеспечения высокой пропускной способности
  • Дополнительный считыватель штрихкодов в устройстве для смены образцов обеспечивает быструю и безошибочную загрузку образцов и ввод данных

Прочность

  • Устройство для удаления пыли снижает степень загрязнения и обеспечивает максимальное время безотказной работы прибора
  • Покрытие CHI-BLUE для окна рентгеновской трубки повышает ее долговечность и устойчивость к коррозии
  • Идентификация типа образца (твердые вещества и жидкости)
  • Считыватель штрихкода для безошибочного ввода образца

?Низкая стоимость владения

  • Малогабаритная компактная конструкция?
  • Конструкция с воздушным шлюзом небольшого объема обеспечивает быстрое помещение образцов в вакуум и низкий расход гелия для анализа жидких образцов
  • Удобная конструкция модуля позволяет быстрее выполнять обслуживание прибора и сокращает простой
  • Специальный охладитель удаляет тепло из помещения лаборатории, позволяя избежать перегрузки системы кондиционирования воздуха
  • Комплексные решения для экономии затрат

Отраслевые версии

Индивидуальные решения для конкретных отраслей

В комплект поставки промышленных версий рентгенофлуоресцентного спектрометра Zetium входят специализированные экспертные шаблоны, а также аппаратные и программные конфигурации для конкретных отраслей промышленности. Эти промышленные версии, предназначенные для быстрого ввода в эксплуатацию и калибровки, оснащены высококачественными запатентованными модулями для настройки программы измерений, которые включают стандартные настройки и инструкции по подготовке образцов. Кроме того, в комплект входят индивидуальные шаблоны программы измерений для типовых отраслевых задач и обеспечения соответствия международным требованиям. Эти системы находят применение в таких отраслях, как цементная, горнодобывающая, металлургическая, нефтехимическая промышленность, производство полимеров и пластиков. Конфигурация версии Ultimate отвечает самым строгим требованиям независимо от отрасли.
Zetium, версия Ultimate

Zetium, версия Ultimate

Представляет собой самую передовую конфигурацию семейства Zetium и обеспечивает непревзойденные аналитические характеристики, независимо от варианта применения.
More information
Zetium, версия Cement (для цементной промышленности)

Zetium, версия Cement (для цементной промышленности)

Обеспечивает выполнение элементного анализа и?для сырья до конечного цемента для точного контроля производственного процесса.
More information
Zetium, версия Metals (для металлов)

Zetium, версия Metals (для металлов)

Включает предварительную настройку соответствующих методологических решений для конкретных аналитических задач в металлургической промышленности.
More information
Zetium, версия Petro (для нефтяной промышленности)

Zetium, версия Petro (для нефтяной промышленности)

Предварительно откалибрована в соответствии с нормативными требованиями нефтехимической промышленности.
More information
Zetium, версия Polymers (для полимеров)

Zetium, версия Polymers (для полимеров)

Предназначена для обеспечения однородности продукции посредством надежного элементного анализа образцов в процессе производства.
More information
Zetium, версия Minerals (для минералов)

Zetium, версия Minerals (для минералов)

Zetium, версия Minerals предназначена для анализа материалов на всех этапах процесса добычи, от руд до хвостов.
More information

Дополнительное оборудование

Стандарты (справочные материалы)

Программное обеспечение

Super Q

Super Q

Программное обеспечение SuperQ отличается простотой применения, что делает спектрометры Zetium и CubiX доступными для использования администраторами и операторами.

More information
Omnian

Omnian

Программное обеспечение Omnian позволяет получать наилучшие результаты анализа, если отсутствуют специальные методы или сертифицированные образцы.

More information
Усиленная защита данных

Усиленная защита данных

Защита ваших данных и соблюдение нормативных требований.
More information
Oil-Trace

Oil-Trace

Oil-Trace — это программный пакет, содержащий комплект стандартов, которые позволяют выполнять точный и достоверный элементный анализ жидкостей с помощью WDXRF и EDXRF.
More information
Pro-Trace

Pro-Trace

Pro-Trace является идеальным средством расчета чистой интенсивности при анализе примесных элементов и точной коррекции матрицы, в случаях когда общая матрица неизвестна.

More information
Stratos

Stratos

Программное обеспечение предоставляет быстрые, простые и неразрушающие средства для анализа покрытий, поверхностных слоев и многослойных структур.
More information

Дополнительно

Пакеты усовершенствования системы

Модульная конструкция платформы Zetium позволяет использовать настраиваемые конфигурации, которые соответствуют даже самым строгим требованиям.
?
  • ? ? Улучшения характеристик, ориентированные на конкретные задачи
  • ? ? Высокая скорость обработки образца — более быстрая смена образца и минимизация косвенных задач
  • ? ? Защита от пыльных образцов и разлива жидкости
  • ? ? Безошибочное введение образца с помощью считывателя штрихкода
  • ? ? Обработка различных типов образцов, включая анализ небольших областей
Пакеты усовершенствования системы

SumXcore

Ядро ED
Платформа Zetium оснащена технологией SumXcore, включающей WDXRF и EDXRF. Эта уникальная комбинация возможностей отличает ее от других по показателям мощности, скорости и универсальности решения задач.
?
Объединенные преимущества WD/ED XRF
Максимальная универсальность при решении задачи и улучшенные рабочие характеристики благодаря одновременным измерениям SumXcore
Преимущества, основанные на значительном сокращении времени измерений до 50% или повышении точности
Дрейфовый кремниевый детектор с высоким разрешением и переменным затуханием сигнала для обеспечения оптимальной универсальности характеристик
Элементный анализ от Na до Am, в концентрациях от ppm до 100%
Отслеживайте неожиданные элементы, которые могут повлиять на анализ элементов, без увеличения времени измерения
Улучшите программу по обеспечению/контролю качества (QA/QC) и достоверность данных благодаря наличию двух независимых результатов для каждого измерения
SumXcore

SuperQ 6 и Virtual Analyst

В Virtual Analyst поступает информация из различных источников, таких как стандартизованные составы, фактические измерения и задания пользователей. Эта информация используется для расчета отклика системы, ее настройки и реализации метода.
?
  • Доступ к возможностям платформы Zetium
  • Простота и удобство рабочего процесса, направленного на конкретные задачи
  • Повышение точности данных благодаря усовершенствованию коррекции матрицы – от металлов до полимеров?
  • Virtual Analyst – реализация многолетнего опыта специалистов.
SuperQ 6 и Virtual Analyst

Анализ небольших областей с помощью картографирования поверхности

Анализ небольших областей с помощью картографирования распределения элементов — это идеальный инструмент для исследования материалов, а также поиска и устранения неполадок в процессе производства. Теперь этот метод можно использовать не только в научно-исследовательских учреждениях, но и на других объектах, что позволяет решать множество задач.
?
  • Идеально подходит для исследования материалов и устранения неполадок в процессе производства
  • Практичное время анализа
  • Оптический путь с прямым соединением для обеспечения высокой чувствительности
  • Использует ядро ED для быстрого, одновременного многоэлементного анализа для одной области
  • Размер пятна 500 мкм (FWHM), размер шага 100 мкм
  • Количественный, качественный и стандартизированный анализ Omnian
  • Простая подготовка образца
Анализ небольших областей с помощью картографирования поверхности
小草青青在线观看免费