Рентгеновская дифракция (XRD) – это общепризнанный неразрушающий метод определения остаточного напряжения в поликристаллических материалах. К примеру, при термической или машинной обработке напряжение может накапливаться в течение всего срока службы материала и вызвать неожиданный отказ технического компонента в составе механической конструкции. Поэтому контроль остаточного напряжения необходим для повышения безопасности и долговечности материала.


Остаточное напряжение производит небольшие изменения в шаге кристаллической решетки материала, которые можно обнаружить методом XRD с очень высокой чувствительностью. На практике положение подходящего дифракционного пика измеряется в определенной точке при различных ориентациях образца относительно падающего рентгеновского пучка. По полученным сведениям можно определить шаги решетки в различных направлениях, а также соответствующую упругую деформацию. Растягивающее напряжение или напряжение сжатия можно вычислить с помощью данных деформации, принимая во внимание константу упругости материала.

Универсальное применение для металлов, керамики, тонких пленок и многого другого

Анализ остаточного напряжения методом рентгеновской дифракции (XRD) можно применять для широкого спектра поликристаллических материалов, таких как закаленная сталь, сварные соединения или керамика. Он используется как инструмент контроля качества и находит применение в научных и промышленных исследованиях. Зачастую специальная подготовка образцов не требуется.

В случае рентгеновской дифракции (XRD) исследуется приповерхностное остаточное напряжение, которое обычно находится на глубине в несколько микрометров. Пленки и покрытия с толщиной менее микрометра также могут быть исследованы с использованием геометрии скользящего падения. Этот метод также позволяет выполнять профилирование по глубине.?


Кроме того, можно составить карту напряжения на поверхности материала с помощью падающего рентгеновского пучка с очень малым размером пятна. В дополнение существуют решения для измерения массивных и тяжелых образцов, малых изогнутых образцов или неровных поверхностей образца.

Серия Empyrean

X'Pert³ MRD

X'Pert³ MRD XL

Серия Empyrean X'Pert³ MRD X'Pert³ MRD XL

Многоцелевое решение для ваших аналитических задач

Versatile research & development XRD system

Versatile research, development & quality control XRD system

Подробнее Подробнее Подробнее
Анализируемые свойства
Форма частиц
Размер частиц (гранулометрический состав)
Crystal structure determination
Идентификация фаз
Phase quantification
Contaminant detection and analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
3D structure / imaging
Исследования тонких пленок
Технология
X-ray Diffraction (XRD)
小草青青在线观看免费