Во многих отраслях знание точной концентрации элементов является критическим фактором при контроле свойств материала или соблюдении правил охраны труда и техники безопасности. Таким образом, зачастую необходимо определить не только наличие элементов, но и уровень их концентрации. Степень точности зависит от области применения.

Рентгеновская флуоресценция и импульсная активация быстрыми тепловыми нейтронами – неразрушающие, надежные и простые в использовании аналитические методы, применяемые для определения элементного состава различных материалов в широком диапазоне областей применения. Для количественной оценки концентраций элементов с помощью этих методов измеренные значения интенсивности проходят сравнение со значениями сертифицированных эталонных материалов или внутренних стандартов с известными концентрациями. Эти стандарты должны иметь максимально возможное сходство с образцами материала. Благодаря этому можно получить точные результаты. Измеренные значения интенсивности также зависят от физических свойств образца, и зачастую необходимо применять различные коррекции. Для этого используют пользовательское программное обеспечение.

Во многих отраслях промышленности необходимо выполнение быстрого скрининга образца неизвестного состава без специальных стандартов. В таких случаях можно использовать программное обеспечение для бесстандартного анализа Omnian, которое предназначено для определения общего элементного состава и получения полуколичественных значений концентраций элементов.

Zetium

Серия Epsilon

Axios FAST

2830 ZT

CNA range

Zetium Серия Epsilon Axios FAST 2830 ZT CNA range

Элементное превосходство

Высокая производительность

Передовое решение для анализа тонких пленок полупроводников

Online elemental analyzers for effective control of many industrial processes

Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее
Анализируемые свойства
Исследования тонких пленок
Contaminant detection and analysis
Химический состав
Технология
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Импульсная активация быстрыми тепловыми нейтронами
Диапазон элементов Be-U Na-Am, C-Am Be-U Be-U
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Разрешение (Mg-Ka) 35eV 145eV 35eV 35eV
Скорость обработки образца 160per 8h day - 240per 8h day 240per 8h day - 480per 8h day up to 25 wafers per hour
小草青青在线观看免费