Приборы для исследования тонких пленок, основанные на методах рентгеновского измерения XRD, XRR и XRF, обеспечивают быстрое выполнение неразрушающего анализа Они доказали высокую эффективность при автономном (ex-situ) исследовании критически важных параметров тонких слоев, гетероструктур и систем со сверхрешеткой, в том числе в нанодиапазоне. Полученная информация позволяет оптимизировать качество пленки, повысить эффективность производства и снизить расходы. Компания Malvern Panalytical предлагает аналитические решения для контроля разработки и производства различных многослойных микро- и оптоэлектронных устройств.

2830 ZT

X'Pert³ MRD

X'Pert³ MRD XL

2830 ZT X'Pert³ MRD X'Pert³ MRD XL

Передовое решение для анализа тонких пленок полупроводников

Versatile research & development XRD system

Versatile research, development & quality control XRD system

Подробнее Подробнее Подробнее
Технология
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Анализируемые свойства
Исследования тонких пленок
Химический состав
Elemental analysis
Contaminant detection and analysis
Elemental quantification
小草青青在线观看免费